Портал | Содержание | О нас | Авторам | Новости | Первая десятка | Дискуссионный клуб | Чат Научный форум --> Первая десятка "Русского переплета" Темы дня:

Президенту Путину о создании Института Истории Русского Народа. |Нас посетило 40 млн. человек | Чем занимались русские 4000 лет назад?

| Кому давать гранты или сколько в России молодых ученых?

ков зависит от мощности источника и величины импеданса.
Отмеченные особенности распространения эл.-магн. вол и в Земле лежат и основе магнитотеллурич. методов геофиз. разведки ≈ магнитотеллурич. зондирования и профилирования, метода теллурич. токов. Эти методы используются для изучения внутр. электропроводности Земли, в разведочной геофизике ≈ для поисков полезных ископаемых: нефти, газа_т рудных месторождений. Разность потенциалов теллурич. тюля на расстояниях в тысячи км может достигать ио время маги, бурь неск. кВ. Поэтому интенсивность 3. т. учитывают при проектировании и эксплуатации подземных и подводных коммуникаций большой протяж╦нности.
Морская вода ≈ хороший проводник. Поэтому плот-яостп морских токов в сотни раз больше сухопутных. В крупномасштабных океанских течениях электрич. поля достигают десятков мкВ/м, магнитные ≈ десятков нТл. Морские токи создают помехи, к-рые необходимо учитывать при эксплуатации разл. приборов в морях и океанах. Намечаются пути использования морских токов в океанографии, при эл.-магн, зондировании дна океана, выясняется действие морских токов на ихтиофауну.
Лит.: Краев А. П., Основы геоэлектрики, 2 изд., Л., 1965; С о ч е л ь н и и о в В. В., Основы теории сстсствен-яого электромагнитного поля и море, Д., 1979; В а н ь я и Л. Д., Б у т и о л с н а я А. И., Магнитотеллурические зондирования слоистых сред, М., 1980; Ч е т а е в Д. Н,, Дирекционный .анализ магнптотеллурических наблюдений, М., 1985,
Г. А. Фонар╦в.
ЗЕРКАЛО оптическое ≈ оптич. деталь (выполненная на стекла, металла, ситалла или пласт-Л1асеы), одна из поверхностей к-рой обладает правильной формой, покрыта отражающим слоем и имеет шероховатость, не большую сотых долей длины волны света. В зависимости от типа покрытия различают 3, металлизированные, в к-рых отражающее покрытие выполнено из алюминия_т серебра, золота и др. металлов, и 3. диэлектрические с отражающим покрытием, образованным чередованием тонких слоев диэлектриков, напр, сернистого цинка, тр╦хсерпистого цинка и т.. н. Действие последних основано на явлении интерференции света, возникающей в тонких Слоях (см. Оптика тонких слоев). Вследствие .этого диэлектрич. 3. обладают ярко выраженной селективностью ≈ способностью отражать свет узкого спектрального диапазона, а также поляризацией.
Качество 3. тем выше, чем ближе форма его поверх) юсти к математически правильной (сфсрич., ци-липдрич., иараболоидалъной и т. д.). Широко применяют также плоские 3-, к-рые служат для изменения направления светояых лучей в соответствии с законом отражения от плоской поверхности. Положение изображения, даваемого 3., может быть получено из общих законов геометрической оптики. Если отражающая поверхность обладает осью симметрии, то положение предмета и его изображения связаны с радиусом кривизны г у вершины О {рис. 1} соотношением: l/s'-f-l/s≈
≈ 2/р, где s ≈ расстояние от вершины О 3. до предмета Л, s' ≈ расстояние до изображения А', Эта ф-ла
-строго выполняется в параксиальной области, т, е, при бесконечно малых углах лучей, образуемых с осью 3. Бесконечно малый отрезок прямой длиной /, перпендикулярной оси, изображается отрезком прямой Г, также перпендикулярным оси, прич╦м l'-=ls^f/$, Если предмет находится на бесконечности, то s' равно фокусному расстоянию 3.: *'=/' = г/2. Фокальная плоскость находится на расстоянии г/2 от вершины 3. Зеркала обладают всеми аберрациями, свойственными обычным оптич. системам (см. Аберрации оптических систем), за исключением хроматических. Последнее обстоятельство делает особенно ценным применение 3, в астр, телескопах, в монохроматорах (особенно ИК) и др. приборах.
Привед╦м выражение для аберрации в изображении
бесконечно удаленного точечного источника, полученного с помощью одиночного 3. Если меридиональный луч образует с осью 3. угол w (рис. 2), то расстояние FA' между осью и точкой А' пересечения лучом фо-

А'
W
F С
Рис. 1.
Рис. 2.
кальной плоскости FA^f=f'\,gw-\-z, где z нал аберрация, определяемая ур-нием;
84r=-
попереч-
Гз (l - М^г-1-Зе² 41 -
L V г J г' J
в*
где х ≈ расстояние от вершины 3. до входного зрачка, (1/≈Л//', е ≈ эксцентриситет меридионального сечения поверхности 3. Все величины на рис. 2 положительны. Первый член в ур-нии (*), пропорциональный О)'³, описывает сферическую аберрацию^ второй ≈ кому, третий определяет астигматизм и кривизну полл изображений, четв╦ртый ≈ дисторсию.
Для 3., применяемых в телескопах, центр входного зрачка совпадает с вершиной О 3. (я=0), тогда ф-ла (#) принимает вид
Для сфсрич. 3. (е=0)
∙ы'н;².
Для параболич. 3'. (^=

/2 ft (Q W ≈ СО !t"%
т. е. сферил. аберрация отсутствует.
Из ф-лы (#) также вытекает известное свойство сфе-рич. 3., центр входного зрачка к-рого совпадает с центром кривизны 3., а именно, у него отсутствуют все аберрации, кроме сферической и кривизны поля изображения. Действительно, при х=г и е=0 ф-ла (*) принимает вид
8^г ,_ ,.'$ | ~7Г ^:= ~≈ СО
Этим свойством пользуются в зеркально-линзовом телескопе, состоящем из сферич. 3. и коррекциошюп пластинки, помещ╦нной во входном зрачке для исправления сферич. аберрации 3. Эллипсоидальные 3. применяются в тех случаях, когда следует безаберраци-опно изобразить точку оси, находящуюся на конечном расстоянии от 3., в др. точку оси. Обе точки являются фокусами эллипсоидальной поверхности. Тем же свойством обладают гппорболоидалыше поверхности для случая, когда одна из точек мнимая, как это происходит, напр., в системе телескопа Кассегрена. В прожекторах и зеркально-линзовых оптич. системах применяют также 3., представляющие собой линзы, задняя сторона к-рых является отражающей. 3. широко используют в оитпч. интерферометрах, а также в септических резонаторах лазеров.
О
о. ш