[ ENGLISH ][AUTO] [KOI-8R][WINDOWS] [DOS][ISO-8859]



  Толстый интернет-журнал
"Русский переплет"
 

Статьи соросовского образовательного журнала

Научный форум


Soros Education Journal
EXAFS-СПЕКТРОСКОПИЯ - НОВЫЙ МЕТОД СТРУКТУРНОГО АНАЛИЗА

СОЖ Физика Атомная и молекулярная спектроскопия

Автор:ВЕДРИНСКИЙ Р.В.

Ростислав Викторович Ведринский, доктор физико-математических наук, профессор кафедры теоретической и вычислительной физики Ростовского университета. Возглавляет отдел теоретической физики научно-исследовательского института физики РГУ. Основная тематика научной работы - теория тонкой структуры рентгеновских и электронных спектров. Автор двух монографий и более 200 других публикаций.

Год:1996

Номер:5

В статье описывается, как, обрабатывая тонкую структуру рентгеновских спектров поглощения атомов в веществе, можно исследовать ближнее окружение этих атомов и какие новые возможности изучения атомной структуры твердых тел открываются в связи с этим.

Текст статьи в формате PDF


Для чтения статьи скачайте программу просмотра.

Русский переплет



Aport Ranker

Copyright (c) "Русский переплет"