ISSEP
О Программе
Учителя
Профессора и доценты
Студенты и аспиранты
Олимпиады школьников
Конференции учителей
Конкурс проектовNew!
Новости
Ссылки
Наши координаты
О сайте
Грантополучатели - 1999 год
Новости науки РП New!
Соросовский Образовательный Журнал
Рубрикатор статей
Главный редактор
Адрес редакции
Поиск по статьям





  
Новости науки и техники
Наверх

Soros Education Journal
Прецизионный рентгеноструктурный анализ кристаллов

СОЖ Физика Атомная и молекулярная спектроскопия

Автор:Цирельсон В.Г.

Владимир Григорьевич Цирельсон, доктор физико-математических наук, зав. кафедрой квантовой химии Российского химико-технологического университета им. Д.И. Менделеева. Область научных интересов - дифракционные методы исследования структуры и свойств кристаллов, химическая связь. Автор 184 научных публикаций, в том числе трех монографий.

Год:2000

Номер:6

Рассмотрен метод, позволяющий восстановить из данных точных рентгенодифракционных измерений распределение электронной плотности и характеристики ангармонического теплового движения атомов в кристалле. Показано, как эта информация используется для изучения химической связи, межатомных взаимодействий и механизма фазовых переходов.

Текст статьи в формате PDF

Обсудить статью в дискусионном клубе


 

c 23.11.99