[ ENGLISH ][AUTO] [KOI-8R][WINDOWS] [DOS][ISO-8859]



  Толстый интернет-журнал
"Русский переплет"
 

Статьи соросовского образовательного журнала

Научный форум


Soros Education Journal
Прецизионный рентгеноструктурный анализ кристаллов

СОЖ Физика Атомная и молекулярная спектроскопия

Автор:Цирельсон В.Г.

Владимир Григорьевич Цирельсон, доктор физико-математических наук, зав. кафедрой квантовой химии Российского химико-технологического университета им. Д.И. Менделеева. Область научных интересов - дифракционные методы исследования структуры и свойств кристаллов, химическая связь. Автор 184 научных публикаций, в том числе трех монографий.

Год:2000

Номер:6

Рассмотрен метод, позволяющий восстановить из данных точных рентгенодифракционных измерений распределение электронной плотности и характеристики ангармонического теплового движения атомов в кристалле. Показано, как эта информация используется для изучения химической связи, межатомных взаимодействий и механизма фазовых переходов.

Текст статьи в формате PDF


Для чтения статьи скачайте программу просмотра.

Русский переплет



Aport Ranker

Copyright (c) "Русский переплет"